原子力显微镜
样品产生的成像假像]] 原子力显微镜（，简称AFM），也称扫描力显微镜（，SFM）是一种纳米级高分辨的扫描探针显微镜，优于光学衍射极限1000倍。原子力显微镜的前身是扫描隧道显微镜，是由IBM苏黎士研究实验室的 ，格尔德·宾宁和格贝尔在1986年在扫描隧道显微镜（STM， Scanning Tunnelling Microscope ）的基础上设计而来。 格爾德·賓寧、魁特（Calvin Quate）和格贝尔（Gerber）于1986年…
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數碼顯微鏡
]] 數碼顯微鏡（）是一種結合傳統光學顯微鏡及視像鏡頭而成的顯微鏡，主要用於教學用途。 數碼顯微鏡的主要好處在於：傳統的光學顯微鏡只能供一人使用，要分享顯微鏡的影像很困難，而要拍攝顯微鏡內的影像，亦往往需要用到特別的儀器幫助。然而，數碼顯微鏡由於可以與電腦接駁，使顯微鏡內的視像可以透過連接到課室的投影機播放，使課室內的學生可以一同觀看影像，對課堂秩序的管理亦有幫助。 發展歷史 世上第一台數位顯微鏡於1986年在日本東京的一家鏡頭生產公司…
落射荧光显微镜
落射荧光显微镜（Epifluorescence microscopy）是荧光显微镜的主要类型，生命科学领域使用尤其如此。 落射荧光显微镜采用落射照明，如图所示： 简单来说，分光镜反射短波，透射长波。短波长激发光在分光镜处反射，由物镜到样品，产生的长波长发射光经物镜返回，并透过分光镜。通常在样品处透射的激发光是反射光的千百倍。检测反射光相对来说，弱化了激发光对发射光的干扰。 参考 [http://www.microscopyu.com/a…
超音波掃瞄顯微鏡
超音波掃瞄顯微鏡（scanning acoustic microscope，SAM），又称超声波扫描断层成像（scanning acoustic tomography，SAT）是一种使用聚焦声音来研究、测量或成像物体的设备。檢測基本原理為利用超音波發射源（Probe）透過純水為介質而傳導到待測試片上，經由超音波的反射或穿透等的作用，將此訊號經機台特定軟體處理成像。常用于失效分析和无损检测。SAM在半导体行业检测微电子封装内的空隙、裂纹和…
菊池線 (物理)
菊池线（，）是电子散射形成的图形。它们结合在一起形成单晶样品的电子衍射带，在那里作为“定向空间的道路”，对于不确定他们所看到的是什么。在透射电子显微镜中，它们很容易在样品厚度足以进行多次散射的区域的衍射中被看到。当晶体倾斜时，衍射点会忽亮忽暗，与此不同，菊池带用明确定义的交叉点(称为区域或极点)以及连接一个交叉点到下一个交叉点的路径来标记方向空间。 菊池带几何的实验和理论图，以及它们的直接空间类似物，如弯曲轮廓、电子沟道模式和条纹可见性…
白光干涉顯微鏡
白光干涉顯微鏡（）是使用光干涉原理來展示物件的內部或表面的顯微鏡。 通過奈米垂直掃描器與干涉物鏡使解析度達到0.1奈米，因此應用於3D高精度量測。 参考文献
扫描隧道显微镜
扫描隧道显微鏡（，缩写为），是一种利用量子隧穿效应探测物质表面结构的仪器。它于1981年由格尔德·宾宁及海因里希·罗雷尔在IBM位于瑞士苏黎世的苏黎世实验室发明，两位发明者因此与电子显微鏡的发明者恩斯特·鲁斯卡分享了1986年诺贝尔物理学奖。 扫描隧道显微鏡技术是扫描探针显微术的一种，基于对探针和表面之间的隧穿电流大小的探测，可以观察表面上单原子级别的起伏。此外，扫描隧道显微鏡在低温下可以利用探针尖端精确操纵单个分子或原子，因此它不仅是…
消色差透鏡
」將紅光和藍光帶到同一焦點，是消色差透鏡的最早例子。]] 消色差透鏡或消色差是旨在降低色差和球面像差影響的一種透鏡。消色差透鏡經過校正，使兩個波長（通常是紅色和藍色）聚焦在同一平面上。這兩者之間的波長比使用單一透鏡獲得的對焦效果要好。 最常見的消色差類型是「消色差雙合透鏡」，它是由具有不同色散的玻璃製成的兩個獨立透鏡組成。通常，一個元件是凹透鏡，由F2等燧石玻璃（火石玻璃）製成，具有相對較高的色散，另一個元件是凸透鏡，例如由色散較低的冕…
顯微鏡
是一種利用透鏡產生光學放大效應的顯微鏡。]] 顯微鏡是可以将肉眼不可見之物的影像放大的工具。 日常用語中之顯微鏡多指光學顯微鏡，放大倍率和清析度（聚焦）為顯微鏡重要因素。 顯微鏡的類型有許多。最常見的（和第一個被發明的）是光學顯微鏡，其他主要的顯微鏡類型包括電子顯微鏡、掃描探針顯微鏡等。 历史 在显微镜发明以前，人们通过瘟疫、腐烂等自然现象察，部分人觉到一种生物的存在，但人们无法直接观察到微生物而一直未能證實。 雖然在古代出現簡單的放大…
透射电子显微镜
细胞，放大倍数为50000x。]] 透射电子显微镜（，TEM）简称-{透射}-电镜，是把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上，电子与样品中的原子碰撞而改变方向，从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度相关，因此可以形成明暗不同的影像，影像将在放大、聚焦后在成像器件（如荧光屏、胶片、以及感光耦合组件）上显示出来。TEM分为常规透射电镜（conventional TEM，CTEM）与扫描透射电镜（scanning TEM，ST…
埃弗哈特-索恩利探测器
埃弗哈特-索恩利探测器（）或E-T探测器是一类可以探测二次电子和背散射电子的传感器，被用于扫描电子显微镜（SEM）中。埃弗哈特-索恩利探测器得名于其设计者和理查德·F·M·索恩利（Richard F. M. Thornley）。他们在1960年发表的设计中把光管（light pipe）加入到真空腔外的光电倍增管，以处理来自于SEM真空腔中闪烁体探测器的信号，由此提升了二次电子探测器的效率。此前，埃弗哈特已经对弗拉基米尔·佐利金和J·A·…
静电力显微镜
静电力显微镜（，简称EFM）是一种利用测量探针与样品的静电相互作用，来表征样品表面静电势能，电荷分布以及电荷输运的[扫描探针显微镜]。 工作原理 静电力显微镜的工作原理与原子力显微镜类似。关键部分都是由悬臂梁组成的探针。但与原子力显微镜测量探针与样品的范德华力不同，静电力显微镜通过测量两者的库仑相互作用来实现样品成像。工作时，探针与样品之间被加上工作电压，悬臂梁探针受静电力的作用，在样品表面震荡，但不接触样品表面。范德华力随着原子间距离…
衍射极限
衍射极限是指光学仪器的分辨率达到极限的狀態。任何光学仪器顯微鏡、望远镜或照相機根據衍射原理，它們的分辨率都存在限制。其他因素，例如透镜缺陷或像差，也可能影响光学仪器的性能，但这些是由透镜制造或近軸近似中的误差引起的，而衍射极限是指理论上理想的光学仪器所能达到的最大分辨率。 參考文獻
全內反射螢光顯微鏡
全内反射荧光显微镜（，TIRFM），利用光線全反射後在介質另一面產生衰逝波的特性，激發荧光分子以觀察螢光標定樣品的極薄區域，觀測的動態範圍通常在200nm以下。因為激發光呈指數衰減的特性，只有極靠近全反射面的樣本區域會產生螢光反射，大大降低了背景光雜訊干擾觀測標的，故此項技術廣泛應用於細胞表面物質的動態觀察以及动态单分子荧光成像。 全反射荧光显微镜的激发方式分为物镜式（Cis）和棱镜式(Trans)。在物镜式显微镜中，激发光束直接穿过物…
显微图谱
《微物圖誌》（，又译为《-{zh-cn:微物图志;zh-tw:顯微圖譜}-》、《显微制图》、《显微术》、《显微镜图集》、《显微镜图像》、《显微图志》、《微观图集》等），是罗伯特·胡克的一本具有历史意义的著作，讲述了他通过各种镜头进行的观察。这是第一本包含通过显微镜看到的昆虫和植物插图的书。 该书于1665年1月出版，是皇家学会的第一本重要出版物，成为第一本科学畅销书，激发了公众对显微镜这门新兴科学的广泛兴趣。该书创造了生物学术语“细胞”…
顯微圖
乳突端触觉小体的 100x 倍率光學顯微圖。]] 的度量。]] 顯微圖（micrograph）又稱顯微像、显微照片（photomicrograph），是以利用显微镜或类似摄影装置，对显微镜视野中所观察到的物像的像片、光学影像、数字图像进行拍摄，用于显示物体的放大影像。显微摄影术（micrography）或顯微照相術（photomicrography）则是利用配置在显微镜上的摄影装置，获取微小物体的高倍放大影像的摄影技术；顯微照相術是由加…
扫描电化学显微镜
扫描电化学显微镜（，缩写SECM）基于电化学原理工作，利用驱动非常小的电极（探针）在靠近样品处进行扫描，样品可以是导体、绝缘体或半导体，可测量微区内物质氧化或还原所给出的电化学电流，进而确定界面上的电化学行为。目前可达到的最高分辨率约为几十纳米。这一技术也可以被用于微观刻印和微结构的创造 历史 1980年左右，超微电极的出现对于发展高敏感度电分析技术是关键的。将超微电极用作探针，就可以研究局部快速进行的电化学反应。1986年Engstr…
共聚焦显微镜
共聚焦显微成像技术（）是一种利用逐点照明和空间针孔调制来去除样品非焦点平面的散射光的光学成像手段，相比于传统成像方法可以提高光学分辨率和视觉对比度。 商业化的共聚焦顯微鏡（）分三类： 共聚焦激光掃描顯微鏡（） 转盘共聚焦顯微鏡（） 可编程序阵列顯微鏡（） 基本原理 從一個點光源發射的探測光通過透鏡聚焦到被觀測物體上，如果物體恰在焦點上，那麼反射光通過原透鏡應當匯聚回到光源，這就是所謂的共聚焦，簡稱共焦。共焦顯微鏡在反射光的光路上加上了一…
光場相機
光場相機是一種捕捉景物所形成光場資訊的相機，除了記錄不同位置下光的強度及顏色外，也記錄不同位置下光線的方向，而一般的相機只能記錄不同位置下光的強度。 有一種光場相機是在傳統的图像传感器前加上了阵列，來偵測光的強度、顏色及方向。多相機陣列（Multi-camera arrays）是另外一種光場相機。全像術是一種以薄膜為基礎的光場影像。 工作原理 光场相机的核心技术是利用微透镜阵列（microlens array）置于镜头与传感器之间，将进…
共聚焦激光掃描顯微
共聚焦激光扫描显微（英語：Confocal laser scanning microscopy，CLSM，LCSM）是一项高分辨率三维光学成像技术。主要特点在于其光学分层能力，即获得特定深度下焦点内的图像。图像通过逐点采集，以及之后的计算机重构而成。因此它可以重建拓扑结构复杂的物体。对于不透明样品，可以进行表面作图，而对于透明样品，则可以进行内部结构成像。内部结构成像上，图像品質在单台显微镜中就可以得到极大的提升，因为来自样品不同深度的…