扫描透射电子显微镜
扫描透射电子显微镜（；縮寫為STEM）是利用电磁透镜把电子束会聚成非常小的束斑在薄样品上进行逐点扫描，并利用探测器收集透过样品的-{zh-hans:散射电子; zh-hant:散射電子}-进行成像的一种显微镜技术。其为透射电子显微镜（TEM）的一种，与传统TEM的区别在于STEM的电子束被汇聚得非常细（束斑大小一般为0.05-0.2 nm），然后该光斑在光栅照明系统下扫描样品，使得样品在每个点都被平行于光轴的光束照亮。因此可与环形暗场成…
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电子显微镜
電子顯微鏡（electron microscope）簡稱電鏡、電顯，是使用電子來展示物件的內部或表面的顯微鏡。 高速的電子的波長比可見光的波長短（波粒二象性），而顯微鏡的分辨率受其使用的波長的限制，因此電子顯微鏡的分辨率（約0.2奈米）遠高於光學顯微鏡的分辨率（約200奈米）。 技術 電子顯微鏡的主要組成部分是： 電子源，是一個釋放自由電子的陰極，一個環狀的陽極加速電子。陰極和陽極之間的電壓差必須非常高，一般在數千伏到3百萬伏之間。 電…
聚焦离子束
聚焦离子束（英语：Focused Ion Beam，简称FIB）是一种主要应用于半导体工业、材料科学，并日益广泛用于生物领域的技术，可用于特定区域的分析、沉积与燒蝕。FIB设备是一种科学仪器，其外形类似于扫描电子显微镜。然而，与SEM利用聚焦电子束对样品成像不同，FIB使用的是聚焦离子束。FIB系统也可与电子束系统集成，形成双束系统，使得同一区域可分别或同时使用离子束与电子束进行观察。FIB不应与用于直写光刻（如质子束写入）的聚焦离子束…
负染色法
负染色法（）是一种染色方法，常用于不透光液体标本的镜检。由于其染色处理过程并非针对菌体本身，故又称衬托染色法、间接染色法。在负染色法中，标本不需要热固定，细胞不会因为化学药物的影响而变形，对于不易染色的细菌或病毒也能观察。 染色剂 就透射电子显微镜来说，原子所带电子的不透明度与其原子序数有关，也就是和核外电子数有关。所以应选择有较强的电子散射能力且易被生物吸附的试剂作为负染色剂，一些常用的负染色剂有钼酸铵、乙酸铀酰、甲酸铀酰、磷钨酸、四…
透射电子显微镜
细胞，放大倍数为50000x。]] 透射电子显微镜（，TEM）简称-{透射}-电镜，是把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上，电子与样品中的原子碰撞而改变方向，从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度相关，因此可以形成明暗不同的影像，影像将在放大、聚焦后在成像器件（如荧光屏、胶片、以及感光耦合组件）上显示出来。TEM分为常规透射电镜（conventional TEM，CTEM）与扫描透射电镜（scanning TEM，ST…
微分相位對比
微分相位對比（Differential Phase Contrast, DPC）是一種基於不對稱照明的光學顯微技術，通過檢測樣品的相位梯度信息，生成高對比度的邊元增強圖像。該技術無需化學染色即可觀測透明或低對比樣品，廣泛應用於生物醫學與材料科學領域。 技術原理 基本概念 DPC利用不對稱照明（如單側光源）檢測樣品的相位梯度，其數學模型可表示為： I_{DPC} \propto \nabla \phi \cdot \mathbf{S} 其…
埃弗哈特-索恩利探测器
埃弗哈特-索恩利探测器（）或E-T探测器是一类可以探测二次电子和背散射电子的传感器，被用于扫描电子显微镜（SEM）中。埃弗哈特-索恩利探测器得名于其设计者和理查德·F·M·索恩利（Richard F. M. Thornley）。他们在1960年发表的设计中把光管（light pipe）加入到真空腔外的光电倍增管，以处理来自于SEM真空腔中闪烁体探测器的信号，由此提升了二次电子探测器的效率。此前，埃弗哈特已经对弗拉基米尔·佐利金和J·A·…
扫描电子显微镜
显示了SEM显微照相的景深特点。]] 地质研究所，1980年拍摄]] 扫描电子显微镜（，缩写为SEM），简称扫描电镜，是一种通过用聚焦电子束扫描样品的表面来产生样品表面图像的电子显微镜。 显微镜电子束通常以的方式扫描样品。电子与样品中的原子相互作用，产生包含样品表面测绘学形貌和组成信息的多种信号。这些信号与电子束的位置信息结合，最终生成图像。扫描电子显微镜的分辨率可优于1纳米，并能用于观察高真空、低真空、湿条件（通过环境扫描电子显微镜）…
低温电子显微镜
低温电子显微技術（，缩写：cryo-EM），是穿透式电子显微镜（TEM）的其中样品在超低温（通常是液氮温度-196℃）下进行型態研究的一种技术。 歷史 早在1960年，便開始有學者提出這個想法並且投入相關研究，結果卻不盡理想。 1974及1975年關鍵的兩年，開始有學者陸續提出各種更佳的解決方案。肯·泰勒（Ken Taylor）和羅伯特·格拉瑟（Robert Glaeser）博士發現冷凍樣品可以保持蛋白質的高解析度訊號。理查德·亨德森博…
环形暗场成像
环形暗场成像（Annular dark-field imaging）是扫描透射电子显微镜（STEM）的电子束扫描样品后，在样品下方利用环形暗场检测器来收集-{zh-hans:散射电子; zh-hant:散射電子;}-的成像方式。 传统透射电子显微镜的暗场成像模式使用一个物镜光阑（objective aperture）来过滤掉透射束，并通过收集未被其过滤的-{散射电子}-进行成像。相比之下，STEM的环形暗场成像不采用光阑对-{zh-ha…
电子束诱导沉积
电子束诱导沉积（Electron beam-induced deposition，EBID）是一种使用电子束分解气相分子，从而在衬底上的特定位置实现沉积生长的技术。 电子束诱导沉积实验中的电子束常常由扫描电子显微镜提供。这是因为扫描电子显微镜的电子束具有极高的空间精准度（可达纳米级别）；这也使得电子束诱导沉积具有生长出独立三维结构的潜能。 实验流程 电子束诱导沉积中的电子束往往由扫描电子显微镜或扫描透射电子显微镜提供，而离子束诱导沉积（…