X射线断层成像测量技术
X射线断层成像（XCT）测量技术是一种新型的无损检测技术，用来检测和分析工业产品内、外部结构。其原理与传统的XCT系统相似，利用X射线从不同方向对物体进行投影，重构后得到产品的三维形貌。由于XCT扫描能够反映产品的内部结构而不对其产生破坏，因此被用于产品质量控制，在航空航天、汽车工业、食品包装和增材制造等领域得到了广泛的关注。常规XCT系统的原理、结构、应用等可以参考文章计算机断层扫描。 工业XCT系统 XCT已经在医疗和工业领域得到了…
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太赫茲斷層掃描
太赫兹断层扫描是一种断层扫描技术，它通过太赫兹辐射进行截面成像。因为太赫兹辐射可以“看到”可见光和红外线看不到的东西，通过太赫兹断层扫描可以取得更独特的信息。 这在某种意义上类似于X射线，除了没有X射线的所有危险的影响。 参考资料