馬達堵轉測試

馬達堵測試（）又稱短路測試（short circuit test）、子鎖定測試（locked rotor test）或失速轉矩測試（stalled torque test），是感應馬達的測試，可以找出額定電壓下的短路電流、短路時的功率因素、馬達的漏電感（漏感抗）以及啟動轉矩等資訊；此測試會在低電壓時進行，因為若輸入電壓為額定電壓，通過定子繞組的電流會很大，會使繞組過熱造成損壞。

測試方式
在馬達堵轉測試時，會將转子固定不動。IEEE建議輸入電壓的頻率為額定頻率的1/4，因為轉子的等效電阻在低頻下的值和高頻可能不同。可以用不同的電壓再重做此測試，確認得到的數值是正確的。因為定子上的電流可能會超過額定電流，此測試需迅速進行。

相關計算
額定電壓時的短路電流
I_{S} 是電壓在 V_{S} 時的短路電流

I_{SN} 是電壓在額定電壓 V 時的短路電流

I_{SN} = I_{S} \times \frac {V} {V_{S}}

短路功率因素
W_{S} 是短路時的總輸入功率

V_{SL} 是短路時的輸入線電壓

I_{SL} 是短路時的輸入線電流

cos \phi_{S} 是短路時的功率因素

cos \phi_{S} = \frac {W_{S}} {{\sqrt{3}} {V_{SL}} {I_{SL}}}

漏感抗
Z_{01} 是短路時，參考定子的短路阻抗

X_{01} 是短路時，參考定子的單相漏感抗

Z_{01} = \frac \text {short circuit voltage per phase} \text {short circuit current} = \frac {V_{S}} {I_{S}}

W_{cu} 是總銅損

W_{c} 是總鐵損

W_{cu} = W_{S} - W_{c}

W_{cu} = {3} \times{{I_{S}}^{2} {R_{01}}}

R_{01} = \frac {W_{cu}} {3{I_{S}}^{2}}

X_{01} = \sqrt {{Z_{01}}^{2} - {R_{01}^{2}}}

參考資料
相關條目
*短路測試
*開路測試
*圓線圖
*堵轉力矩